Welcome to Prime-rel 测试设备 一款多功能的功率半导体器件环境老化实验设备,主要用于功率半导体器件的环境老化
试验寿命评估,比如Si/SiC/GaN材料IGBT/DIODE/MOSFET/IPM/HEMT/BJT/SCR等器件的HTGB/HTRB/H3TRB/HV-H3TRB试验 高加速应力寿命试验系统
高加速应力环境箱:支持不饱和控制、湿润饱和控制、干湿球温度控制,实时记录试验数据和曲线 功率器件无功老化综合测试系统 高温/常温动静态参数测试站、绝缘耐压测试站、无功老化测试站、阻断老化测试站、3D供度测试站和全尺寸测量测试站任意组合。测试线支持自动上下料和传输,并能输出NG结果。 专门用于车规级模块高温反偏量产筛选设备,主要用于产品出厂前的高温反偏量产筛选,剔除早期失效器件,可以支持手动测试或者全自动测试 车规级模块高温反偏量产筛选系统 多功率模块全自动测试系统
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公司愿景:提供完整的功率器件检测整体解决方案,帮助用户打造全自动化、信息化的工厂,大幅提高测试效率、降低生产成本、加速产品上市时间。
核心团队汇集中科院微电子所、海外业内专家等一系列资深专业技术人才。
公司自成立以来,打造了研发+制造约4000平基地,申请专利60项以上,拥有雄厚的产业资源、运营资本、政策红利,地方政府大力支持。
勇于创新、艰苦奋斗、团队协作、客户为本、心怀感恩、成就梦想。
全自动化、高集成化的智能检测设备为基础,结合成熟的工业物联网技术(远程监控、云存储、云计算),实现整个测试自动化和数据管理信息化。